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Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
Evolution of Radiation-Induced Soft Errors in FinFET SRAMs under Process Variations beyond 22nm
Año:2015
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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PROCEEDINGS OF THE 2015 IEEE/ACM INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON NANOSCALE ARCHITECTURES (NANOARCH 15) |
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ISSN
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2327-8218 |
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Factor de impacto JCR
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0 |
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Información de impacto
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Volumen
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DOI
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Número de revista
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Mes
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Ranking
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Participantes
- Autor:
pablo royer (UPM) - Autor: fernando garcia-redondo (UPM)
- Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
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