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Abstract
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| Medición in situ de la máscara de elevación de la antena de seguimento de satélites mediante la configuración de un sistema de medida (hadware y software) que integra sensores de captura de datos geográficos y electromagnéticos | |
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International
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Si |
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JCR
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Si |
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Title
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Measurement |
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ISBN
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0263-2241 |
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Impact factor JCR
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1,742 |
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Impact info
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Datos JCR del año 2015 |
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Volume
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98 |
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10.1016/j.measurement.2016.11.030 |
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Journal number
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From page
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159 |
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To page
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166 |
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Month
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FEBRERO |
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Ranking
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