Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Accelerated Life Test of high luminosity blue LEDs
Año:2016
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN
0026-2714
Factor de impacto JCR
1,433
Información de impacto
Volumen
64
DOI
10.1016/j.microrel.2016.07.021
Número de revista
Desde la página
631
Hasta la página
634
Mes
Ranking
0
Participantes
  • Autor: e. nogueira (UPM)
  • Autor: v. orlando (UPM)
  • Autor: j. ochoa (UPM)
  • Autor: Antonio Fernandez Fernandez (UPM)
  • Autor: Beatriz Fernandez Agueda (UPM)
  • Autor: Ana Serrano Fernandez (UPM)
  • Autor: Maria Covadonga Fernandez Baizan (UPM)
  • Autor: M. Aurora Fernandez Rodriguez (UPM)
  • Autor: Antonio Alvarez Fernandez Balbuena (UPM)
  • Autor: Raquel Fernandez Espartosa (UPM)
  • Autor: m. vazquez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Grupo de Investigación: Análisis y Documentación de Arquitectura, Diseño, Moda & Sociedad
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