Artículos en revistas:
Accelerated Life Test of high luminosity blue LEDs
Accelerated Life Test of high luminosity blue LEDs
Año:2016
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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MICROELECTRONICS RELIABILITY |
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ISSN
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0026-2714 |
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Factor de impacto JCR
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1,433 |
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Información de impacto
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Volumen
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64 |
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DOI
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10.1016/j.microrel.2016.07.021 |
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Número de revista
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Desde la página
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631 |
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Hasta la página
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634 |
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Mes
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Ranking
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Ver publicación en Archivo digital upm
Participantes
- Autor: e. nogueira (UPM)
- Autor:
v. orlando (UPM) - Autor: j. ochoa (UPM)
- Autor: Antonio Fernandez Fernandez (UPM)
- Autor: Beatriz Fernandez Agueda (UPM)
- Autor: Ana Serrano Fernandez (UPM)
- Autor: Maria Covadonga Fernandez Baizan (UPM)
- Autor: M. Aurora Fernandez Rodriguez (UPM)
- Autor: Antonio Alvarez Fernandez Balbuena (UPM)
- Autor: Raquel Fernandez Espartosa (UPM)
- Autor: m. vazquez (UPM)
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- Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
- Grupo de Investigación: Análisis y Documentación de Arquitectura, Diseño, Moda & Sociedad
- Departamento: Electrónica Física
- Departamento: Ingeniería y Gestión Forestal y Ambiental
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