|
Descripción
|
|
|---|---|
| Sistemas de medida de las propiedades mecánicas de monocapas de Langmuir basado en microhilos magnéticos, que actúan a modo de sondas movidos por campos magnéticos; el sistema actúa con precisión gracias al calibrado mediante un método (programa de ordenador) desarrollado específicamente para este material (los microhilos), este sistema mide con una resolución 10 veces mayor que las soluciones comerciales disponibles extendiendo el rango de monocapas que se puede medir. | |
|
Internacional
|
No |
|
Estado
|
Concedida |
|
Referencia Patente Prioritaria
|
P201431106 |
|
En explotación
|
No |
|
Licenciatarios
|
|
|
Fecha solicitud
|
23/07/2014 |
|
Titulares aparte de la UPM
|
Universidad Complutense de Madrid (UCM);Universidad Nacional de Educacion a Distancia (UN; |