Artículos en revistas:
Distinguishing cubic and hexagonal phases within InGaN/GaN microstructures using electron energy loss spectroscopy
Distinguishing cubic and hexagonal phases within InGaN/GaN microstructures using electron energy loss spectroscopy
Año:2016
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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JOURNAL OF MICROSCOPY |
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ISSN
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0022-2720 |
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Factor de impacto JCR
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2,331 |
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Información de impacto
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Volumen
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262 |
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DOI
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10.1111/jmi.12285 |
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Número de revista
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2 |
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Desde la página
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167 |
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Hasta la página
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170 |
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Mes
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Ranking
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0 |
Participantes
- Autor:
s. albert (UPM) - Autor: i. j. griffiths
- Autor: a. bengoechea-encabo (UPM)
- Autor: d. cherns
- Autor: m. angel sanchez (UPM)
- Autor: e. calleja (UPM)
- Autor: t. schimpke
- Autor: m. strassburg
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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