Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Distinguishing cubic and hexagonal phases within InGaN/GaN microstructures using electron energy loss spectroscopy
Year:2016
Research Areas
Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
JOURNAL OF MICROSCOPY
ISBN
0022-2720
Impact factor JCR
2,331
Impact info
Volume
262
10.1111/jmi.12285
Journal number
2
From page
167
To page
170
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: s. albert UPM
  • Autor: i. j. griffiths
  • Autor: a. bengoechea-encabo UPM
  • Autor: d. cherns
  • Autor: m. angel sanchez UPM
  • Autor: e. calleja UPM
  • Autor: t. schimpke
  • Autor: m. strassburg
Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica