Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Quantitative parameters for the examination of InGaN QW multilayers by low-loss EELS
Year:2016

Research Areas

Information
Abstract
0
International
Si
JCR
Si
Title
PHYSICAL CHEMISTRY CHEMICAL PHYSICS
ISBN
1463-9076
Impact factor JCR
4,493
Impact info
Volume
18
10.1039/c6cp04493j
Journal number
33
From page
23264
To page
23276
Month
Ranking
0
Participants
  • Autor: noemi garcia-lepetit UPM
  • Autor: alberto eljarrat
  • Autor: zarko gacevic UPM
  • Autor: lluis lopez-conesa
  • Autor: enrique calleja UPM
  • Autor: cesar magen
  • Autor: francesca peiro
  • Autor: sonia estrade

Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica