Ponencias en congresos:
Optical quantification of strain and doping in graphene
Optical quantification of strain and doping in graphene
Año:2017
Áreas de investigación
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Nanotecnología, -
Espectrometría raman,
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Caracterizacion,
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Transistores de efecto de campo de modulación de dopado (modfet)
Datos
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Descripción
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| Workshop temático de microscoía confocal asociado al estudio de los materials | |
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Internacional
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No |
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Nombre congreso
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Understanding Materials Structure and Performance by Raman Confocal Microscopy |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Instituto de Cerámica y vidrio, Cantoblanco, Madrid |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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0000000000 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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26/04/2017 |
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Fecha fin congreso
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28/04/2017 |
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Desde la página
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33 |
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Hasta la página
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33 |
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Título de las actas
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4° Workshop sobre Microscopia Raman Confocal |
Participantes
- Autor: Alberto Bosca Mojena (UPM)
- Autor: Jorge Pedros Ayala (UPM)
- Autor: Antonio Ladron De Guevara Ruiz (UPM)
- Autor: Rajveer Singh Fandan (UPM)
- Autor: Javier Martinez Rodrigo (UPM)
- Autor: Fernando Calle Gomez (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
- Departamento: Ciencia de Materiales
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