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Descripción
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| Relacionado con líneas de investigación del GDS DEL ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php | |
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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Microscopy And Microanalysis |
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ISSN
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1431-9276 |
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Factor de impacto JCR
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1,73 |
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Información de impacto
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Volumen
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22 |
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DOI
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10.1017/S1431927616000428 |
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Número de revista
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Desde la página
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46 |
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Hasta la página
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47 |
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Mes
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SIN MES |
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Ranking
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