Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Characterization of the amplitude frequency response of Analog-to-Digital Converters
Año:2016
Áreas de investigación
  • Metrología químicas (trazabilidad, incertidumbre)
Datos
Descripción
This paper describes a method for the characterization of the amplitude frequency response of Analog-to-Digital converters at frequencies up to 20 kHz using a true quantum reference calibrated semiconductor based DAC arbitrary waveform generator, developed within the EMPIR project Q-WAVE, jointly founded by the European Union and the partipating countries. The procedure that can be used for the characterization of any ADC is appplied to de DCV function of a Keysight 3458A digital multimeter. The measurement conditions an the main uncertainty sources are identified and evaluated for complete uncertainty estimation by means of the Monte Carlo Method.
Internacional
Si
Nombre congreso
2160-0171
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Ottawa, Canada
Revisores
Si
ISBN o ISSN
2160-0171
DOI
10.1109 / CEPEM.2016.7540455
Fecha inicio congreso
10/07/2016
Fecha fin congreso
15/07/2016
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Título de las actas
IEEE Xplore Digital library. http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=7540455
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: MECANO: Investigación didáctica en la Ingeniería Mecánica