Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Analysis of capping with GaAsSbN thin layers in (un)coupled InAs/GaAs multi quantum dot layers for enhanced solar cells
Año:2016

Áreas de investigación
  • Ingenierías,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones

Datos
Descripción
Relacionado con líneas de investigación del GDS DEL ISOM http://www.isom.upm.es/dsemiconductores.php
Internacional
Si
Nombre congreso
European Microscopy Congress 2016
Tipo de participación
970
Lugar del congreso
Lyon, Francia
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000000000000
DOI
Fecha inicio congreso
28/08/2016
Fecha fin congreso
02/09/2016
Desde la página
912
Hasta la página
913
Título de las actas
Proceedings

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Departamento: Ciencia de Materiales