Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Characterization of Analog Modules: Reliability Analyses of Radiation, Temperature and Variations Effects
Año:2016
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
2016 CONFERENCE ON DESIGN OF CIRCUITS AND INTEGRATED SYSTEMS (DCIS 2016)
ISSN
Factor de impacto JCR
0
Información de impacto
Volumen
DOI
Número de revista
Desde la página
103
Hasta la página
107
Mes
Ranking
0
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: fernando garcia-redondo (UPM)
  • Autor: hernan aparicio (UPM)
  • Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
  • Autor: pablo ituero (UPM)
  • Autor: carlos lopez-barrio (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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