Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Characterization of Analog Modules: Reliability Analyses of Radiation, Temperature and Variations Effects
Año:2016

Áreas de investigación

Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
2016 CONFERENCE ON DESIGN OF CIRCUITS AND INTEGRATED SYSTEMS (DCIS 2016)
ISSN
Factor de impacto JCR
0
Información de impacto
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DOI
Número de revista
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103
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Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica