Artículos en revistas:
Reliable Design Methodology: The Combined Effect of Radiation, Variability and Temperature
Reliable Design Methodology: The Combined Effect of Radiation, Variability and Temperature
Año:2016
Áreas de investigación
Datos
|
Descripción
|
|
|---|---|
| 0 | |
|
Internacional
|
Si |
|
JCR del ISI
|
Si |
|
Título de la revista
|
2016 13TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SYNTHESIS, MODELING, ANALYSIS AND SIMULATION METHODS AND APPLICATIONS TO CIRCUIT DESIGN (SMACD) |
|
ISSN
|
|
|
Factor de impacto JCR
|
0 |
|
Información de impacto
|
|
|
Volumen
|
|
|
DOI
|
|
|
Número de revista
|
|
|
Desde la página
|
0 |
|
Hasta la página
|
4 |
|
Mes
|
|
|
Ranking
|
0 |
Participantes
- Autor:
fernando garcia-redondo (UPM) - Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
- Autor: hernan aparicio (UPM)
- Autor: pablo ituero (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
- Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2023 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)