Artículos en revistas:
Statistically-Aided Electronic Design Environment
Statistically-Aided Electronic Design Environment
Año:2016
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Título de la revista
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2016 13TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON SYNTHESIS, MODELING, ANALYSIS AND SIMULATION METHODS AND APPLICATIONS TO CIRCUIT DESIGN (SMACD) |
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ISSN
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Participantes
- Autor: carlos gil soriano
- Autor:
pablo ituero (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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