Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Reconfigurable Writing Architecture for Reliable RRAM Operation in Wide Temperature Ranges
Año:2017

Áreas de investigación

Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS
ISSN
1063-8210
Factor de impacto JCR
1,245
Información de impacto
Volumen
25
DOI
10.1109/TVLSI.2016.2634083
Número de revista
4
Desde la página
1224
Hasta la página
1235
Mes
Ranking
0

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Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica