Artículos en revistas:
Reconfigurable Writing Architecture for Reliable RRAM Operation in Wide Temperature Ranges
Reconfigurable Writing Architecture for Reliable RRAM Operation in Wide Temperature Ranges
Año:2017
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS |
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ISSN
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1063-8210 |
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Factor de impacto JCR
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1,245 |
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Información de impacto
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Volumen
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25 |
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DOI
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10.1109/TVLSI.2016.2634083 |
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Número de revista
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4 |
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Desde la página
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1224 |
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Hasta la página
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1235 |
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Mes
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Ranking
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0 |
Participantes
- Autor:
fernando garcia-redondo (UPM) - Autor: pablo royer (UPM)
- Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
- Autor: hernan aparicio (UPM)
- Autor: pablo ituero (UPM)
- Autor: carlos a. lopez-barrio (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
- Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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