Memorias de investigación
Conferencias:
Robust design based on variability monitoring
Año:2017
Áreas de investigación
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones,
  • Circuitos electrónicos,
  • Diseño microelectrónico
Datos
Descripción
Ponencia invitada dentro del IEEE CEDA Spain Chapter / NANOVAR Workshop titulado "How to survive in an unreliable world". November 21, 2017.
Internacional
No
ISSN o ISBN
Entidad relacionada
The Spain Chapter of the IEEE Council on Electronic Design Automation (CEDA) and the NANOVAR Network of Excellence.
Nacionalidad Entidad
Sin nacionalidad
Lugar del congreso
Barcelona
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
  • Departamento: Ingeniería Electrónica