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Descripción
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| Fabrication of polycrystalline silicon (poly-Si) from amorphous silicon using a CW diode laser to replace the standard Si wafers. Evaluation of poly-Si films quality by means of XRD & Raman spectroscopy. | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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EUROMAT2017 |
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Tipo de participación
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970 |
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Lugar del congreso
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Tesalónica, Grecia |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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CDP08UPM |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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17/09/2017 |
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Fecha fin congreso
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22/09/2017 |
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Título de las actas
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En proceso de publicación |