Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Analyzing the Effects of Binarization Techniques when Solving the Set Covering Problem Through Swarm Optimization
Año:2017
Áreas de investigación
  • Ingeniería eléctrica, electrónica y automática
Datos
Descripción
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
Expert Systems with Applications
ISSN
0957-4174
Factor de impacto JCR
3,928
Información de impacto
Volumen
70
DOI
10.1016/j.eswa.2016.10.054
Número de revista
Desde la página
67
Hasta la página
82
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Teresa Riesgo Alcaide (UPM)
  • Autor: José Manuel Lanza (CEI-UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Electrónica Industrial
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Electrónica Industrial. CEI
  • Departamento: Automática, Ingeniería Eléctrica y Electrónica e Informática Industrial
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