Descripción
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El artículo presenta el sistema CAMEVA, un sistema de microscopía de reflectancia multiespectral especialmente concebido para facilitar la identificación y caracterización de las fases minerales presentes en preparaciones pulidas de menas metálicas, así como para automatizar la realización de distintos tipos de análisis cuantitativos sobre ellas. El sistema CAMEVA permite obtener resultados similares a los de un sistema MEB (microscopía electrónica de barrido), superando algunas de sus limitaciones, como sus rígidas y costosas exigencias de infraestructura y especialización o la dificultad de distinguir especies polimorfas, pero a un coste notablemente inferior. Los ensayos realizados muestran que el sistema permite la identificación automatizada y fiable de las menas de interés industrial, a partir de la información multiespectral en el rango VNIR (visible e infrarrojo cercano, entre 400 y 1000 nm) recogida en una base de datos específica; esta base de datos, que incluye los 70 minerales de mayor interés, es fácilmente ampliable. Palabras clave: Análisis de imagen; Geometalurgia; Menas metálicas; Microscopía óptica; Reflectancia multiespectral | |
Internacional
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Si |
JCR del ISI
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Si |
Título de la revista
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REVISTA DE METALURGIA |
ISSN
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0034-8570 |
Factor de impacto JCR
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0,436 |
Información de impacto
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Volumen
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53 |
DOI
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10.3989/revmetalm.107 |
Número de revista
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4 |
Desde la página
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1 |
Hasta la página
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20 |
Mes
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NOVIEMBRE |
Ranking
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