Artículos en revistas:
On the Design and Analysis of Reliable RRAM-CMOS Hybrid Circuits
On the Design and Analysis of Reliable RRAM-CMOS Hybrid Circuits
Año:2017
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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| 0 | |
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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IEEE TRANSACTIONS ON NANOTECHNOLOGY |
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ISSN
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1536-125X |
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Factor de impacto JCR
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1,702 |
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Información de impacto
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Volumen
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16 |
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DOI
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10.1109/TNANO.2017.2697311 |
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Número de revista
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3 |
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Desde la página
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514 |
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Hasta la página
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522 |
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Mes
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Ranking
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0 |
Participantes
- Autor:
fernando garcia-redondo (UPM) - Autor: marisa lopez-vallejo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Centro o Instituto I+D+i: Centro de I+d+i en Procesado de la Información y Telecomunicaciones
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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