Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Effect of thin GaAs(SbN) capping layers on (un)coupled InAs/GaAs multi-quantum dot layers for enhanced solar cells
Año:2017
Áreas de investigación
  • Ingenierías,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
Relacionado con lineas de investigación del GDS ISOM
Internacional
Si
Nombre congreso
The 17th conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVII) will be held in Valladolid, Spain, October 8-12, 2017.
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Valladolid
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000000000000
DOI
Fecha inicio congreso
08/10/2017
Fecha fin congreso
12/10/2017
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Título de las actas
Proceedings
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: D.F. Reyes
  • Autor: V. Braza
  • Autor: T. Ben
  • Autor: D. González
  • Autor: Antonio David Utrilla Lomas (UPM)
  • Autor: Alicia Gonzalo Martin (UPM)
  • Autor: Jose Maria Ulloa Herrero (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Departamento: Ciencia de Materiales
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