Artículos en revistas:
Lifetime of electret microphones by thermal degradation analysis via electroacoustic measurements
Año:2018
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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MICROELECTRONICS RELIABILITY |
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ISSN
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0026-2714 |
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Factor de impacto JCR
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1,371 |
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Información de impacto
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Volumen
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81 |
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DOI
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10.1016/j.microrel.2017.12.018 |
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Número de revista
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Desde la página
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95 |
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Mes
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Ver publicación en Archivo digital upm
Participantes
- Autor: Eduardo Nogueira Diaz UPM
- Autor: juan sancho gil UPM
- Autor: jose luis sanchez bote UPM
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Grupo de Investigación: Integración de Sistemas e Instrumentos (ISI)
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
- Departamento: Electrónica Física
- Departamento: Teoría de la Señal y Comunicaciones (Provisional)