Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Bayesian model for subpixel uncertainty determination in optical measurements
Año:2017
Áreas de investigación
Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
MANUFACTURING ENGINEERING SOCIETY INTERNATIONAL CONFERENCE 2017 (MESIC 2017)
ISSN
2351-9789
Factor de impacto JCR
0
Información de impacto
Volumen
13
DOI
10.1016/j.promfg.2017.09.042
Número de revista
Desde la página
442
Hasta la página
449
Mes
Ranking
0
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: m. berzal (UPM)
  • Autor: e. gomez (UPM)
  • Autor: j. caja (UPM)
  • Autor: c. barajas (UPM)
  • Autor: j. de vicente (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Física Aplicada e Ingeniería de Materiales
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