Observatorio de I+D+i UPM

Descripción
Se halla la descomposición wavelet de una imagen, se consideran diferentes estadísticos con los que se pueden clasificar imágenes
Internacional	Si
Nombre congreso	45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society
Tipo de participación	960
Lugar del congreso	Lisboa, Portugal
Revisores	Si
ISBN o ISSN	2577-1647
DOI	10.1109/IECON.2019.8927296
Fecha inicio congreso	14/10/2019
Fecha fin congreso	17/10/2019
Desde la página	5419
Hasta la página	5425
Título de las actas	2019 IEEE 28th InternationalSymposium on Industrial Electronics

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

• Autor: Wilmar Hernandez Perdomo (UPM)
• Autor: Alfredo Mendez Alonso (UPM)
• Autor: Francisco Ballesteros Olmo (UPM)
• Autor: Vicente Gonzalez Posadas (UPM)
• Autor: Jose Luis Jimenez Martin (UPM)
• Autor: Vera Tyrsa (Universidad Autonoma de Baja California, Mexico)
• Autor: Mykhailo Ivanov (Universidad Autonoma de Baja California, Mexico)
• Autor: Angel Antonio Ruiz-Pico (Universidad del Señor del Sipan, Peru)
• Autor: Ivan Menes Camejo (Escuela Superior Politecnica de Chimborazo, Ecuador)
• Autor: Pablo Alejandro Quezada-Sarmiento (Instituto Tecnologico Superior Daniel Alvarez Burneo, Ecuador)

• Creador: Grupo de Investigación: DIEMAG: Desarrollo e Investigación Electromagnética
• Grupo de Investigación: Grupo de Biometría, Bioseñales, Seguridad y Smart Mobility
• Departamento: Ingeniería Audiovisual y Comunicaciones