Abstract
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Se halla la descomposición wavelet de una imagen, se consideran diferentes estadísticos con los que se pueden clasificar imágenes | |
International
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Si |
Congress
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45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society |
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960 |
Place
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Lisboa, Portugal |
Reviewers
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Si |
ISBN/ISSN
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2577-1647 |
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10.1109/IECON.2019.8927296 |
Start Date
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14/10/2019 |
End Date
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17/10/2019 |
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5419 |
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5425 |
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2019 IEEE 28th InternationalSymposium on Industrial Electronics |