Artículos en revistas:
Electron Tomography of Pencil-Shaped GaN/(In,Ga)N Core-Shell Nanowires
Electron Tomography of Pencil-Shaped GaN/(In,Ga)N Core-Shell Nanowires
Año:2019
Áreas de investigación
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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NANOSCALE RESEARCH LETTERS |
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ISSN
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1931-7573 |
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Factor de impacto JCR
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3,125 |
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Información de impacto
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Volumen
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14 |
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DOI
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10.1186/s11671-019-3072-1 |
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Número de revista
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Mes
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Ranking
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Participantes
- Autor:
zarko gacevic (UPM) - Autor: lars nicolai
- Autor: enrique calleja (UPM)
- Autor: achim trampert
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: No seleccionado
- Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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