Descripción
|
|
---|---|
Relacionado con línea de investigación del GDS ISOM | |
Internacional
|
Si |
Nombre congreso
|
21st International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials (MSM-XXI) |
Tipo de participación
|
970 |
Lugar del congreso
|
Cambridge, UK |
Revisores
|
Si |
ISBN o ISSN
|
0000000000000 |
DOI
|
|
Fecha inicio congreso
|
09/04/2019 |
Fecha fin congreso
|
12/04/2019 |
Desde la página
|
1 |
Hasta la página
|
3 |
Título de las actas
|
Proceedings |