Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Analysis of the N distribution in GaAs(Sb)(N) super1attices from ADF imaging
Año:2019
Áreas de investigación
  • Ingenierías,
  • Tecnología electrónica y de las comunicaciones
Datos
Descripción
Relacionado con línea de investigación del GDS ISOM
Internacional
Si
Nombre congreso
21st International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials (MSM-XXI)
Tipo de participación
970
Lugar del congreso
Cambridge, UK
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000000000000
DOI
Fecha inicio congreso
09/04/2019
Fecha fin congreso
12/04/2019
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3
Título de las actas
Proceedings
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: N Ruiz Marín
  • Autor: D F Reyes
  • Autor: V Braza
  • Autor: S. Flores
  • Autor: Alicia Gonzalo Martin (UPM)
  • Autor: Jose Maria Ulloa Herrero (UPM)
  • Autor: A D Utrilla
  • Autor: T Ben
  • Autor: D. González
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Departamento: Ciencia de Materiales
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
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