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Descripción
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| Relacionado con línea de investigación del GDS ISOM | |
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Internacional
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Si |
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Nombre congreso
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21st International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials. |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Cambridge, (UK) |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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0000000000000 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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09/04/2019 |
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Fecha fin congreso
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12/04/2019 |
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Título de las actas
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Proceedings |