Descripción
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Trabajos de investigación en High Frequency Characterization of InGaAs MOSFETs, en el Grupo de Investigación dirigido por el profesor Jesús del Álamo, Director del Microsystems Technology Laboratories, (MIT). | |
Internacional
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Si |
Lugar
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Lugar: Cambridge, MA (USA) |
Tipo
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Fecha inicio
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01/07/2019 |
Fecha fin
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30/08/2019 |