Descripción
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Al:ZnO layers, with low and high Al content, 0.2% and 2.1% cat. respectively, have been prepared using the RFmagnetron sputtering technique. Noticeable differences in the optical and electrical properties have been de-tected in thesefilms | |
Internacional
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Si |
JCR del ISI
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Si |
Título de la revista
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Ceramics International |
ISSN
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0272-8842 |
Factor de impacto JCR
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3,83 |
Información de impacto
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Volumen
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45 |
DOI
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10.1016/j.ceramint.2018.12.116 |
Número de revista
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Desde la página
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6319 |
Hasta la página
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6327 |
Mes
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SIN MES |
Ranking
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