Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Combined assessment of Al1-xScxN thin films by RBS, XRD, FTIR and BAW frequency response measurements
Año:2019

Áreas de investigación

Datos
Descripción
0
Internacional
Si
JCR del ISI
Si
Título de la revista
2019 IEEE INTERNATIONAL ULTRASONICS SYMPOSIUM (IUS)
ISSN
1948-5719
Factor de impacto JCR
0
Información de impacto
Volumen
DOI
Número de revista
Desde la página
720
Hasta la página
723
Mes
Ranking
0

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Participantes

Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de Materiales y Dispositivos Avanzados para Tecnologías de Información y Comunicaciones