Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Calibration of boron concentration in CVD single crystal diamond combining ultralow energy secondary ions mass spectrometry and high resolution X-ray diffraction
Year:2007

Research Areas
  • Electronics engineering

Information
Abstract
En este artículo se usan espectrometría de masas de iones secundarios y difractometría de rayos X de alta resolución para calibrar el contenido de boro de muestras de diamante monocristalino crecidas por CVD. Se indican las dificultades de dicha calibración y se proponen algunas soluciones para realizarla de forma fiable.
International
Si
JCR
Si
Title
DIAM RELAT MATER
ISBN
0925-9635
Impact factor JCR
1,788
Impact info
Volume
16
Journal number
0
From page
809
To page
814
Month
SIN MES
Ranking
Participants
  • Participante: B. Guzmán de la Mata University of Warwick
  • Participante: M. Schwitters Element Six Ltd.
  • Autor: Alfredo Sanz Hervas UPM
  • Participante: M.G. Dowsett University of Warwick
  • Participante: D. Twitchen Element Six Ltd.

Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Departamento: Tecnología Electrónica