Artículos en revistas:
M. NIEBELSCHÜTZ, V. CIMALLA, O. AMBACHER, T. MACHLEIDT, K.H. FRANKE, J. RISTIC, J. GRANDAL, M.A. SÁNCHEZ-GARCÍA, E. CALLEJA "Electrical characterization of Group III-Nitride nanocolumns with Scanning Force Microscopy" Modern Research and Educational Topics in Microscopy, Nº3, Eds. A. Méndez-Vilas, J. Díaz. Formatex, 560-567 (2007) ISSN: 0370-1972
M. NIEBELSCHÜTZ, V. CIMALLA, O. AMBACHER, T. MACHLEIDT, K.H. FRANKE, J. RISTIC, J. GRANDAL, M.A. SÁNCHEZ-GARCÍA, E. CALLEJA "Electrical characterization of Group III-Nitride nanocolumns with Scanning Force Microscopy" Modern Research and Educational Topics in Microscopy, Nº3, Eds. A. Méndez-Vilas, J. Díaz. Formatex, 560-567 (2007) ISSN: 0370-1972
Año:2007
Áreas de investigación
-
Industria electrónica
Datos
|
Descripción
|
|
|---|---|
| Relacionado con la línea de investigación de Nanoestructuras de nitruros | |
|
Internacional
|
Si |
|
JCR del ISI
|
No |
|
Título de la revista
|
AModern Research and Educational Topics in Microscopy, |
|
ISSN
|
0370-1972 |
|
Factor de impacto JCR
|
0 |
|
Información de impacto
|
|
|
Volumen
|
|
|
DOI
|
|
|
Número de revista
|
3 |
|
Desde la página
|
560 |
|
Hasta la página
|
567 |
|
Mes
|
SIN MES |
|
Ranking
|
|
Participantes
- Autor: J. RISTIC
- Autor: V. CIMALLA
- Autor: T. MACHLEIDT
- Autor: Javier Grandal Quintana (UPM)
- Autor: Miguel Angel Sanchez Garcia (UPM)
- Autor: K.H. FRANKE
- Autor: M. NIEBELSCHÜTZ
- Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
- Autor: O. AMBACHER
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
S2i 2023 Observatorio de investigación @ UPM con la colaboración del Consejo Social UPM
Cofinanciación del MINECO en el marco del Programa INNPACTO (IPT-020000-2010-22)