Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
M. NIEBELSCHÜTZ, V. CIMALLA, O. AMBACHER, T. MACHLEIDT, K.H. FRANKE, J. RISTIC, J. GRANDAL, M.A. SÁNCHEZ-GARCÍA, E. CALLEJA "Electrical characterization of Group III-Nitride nanocolumns with Scanning Force Microscopy" Modern Research and Educational Topics in Microscopy, Nº3, Eds. A. Méndez-Vilas, J. Díaz. Formatex, 560-567 (2007) ISSN: 0370-1972
Año:2007
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
Relacionado con la línea de investigación de Nanoestructuras de nitruros
Internacional
Si
JCR del ISI
No
Título de la revista
AModern Research and Educational Topics in Microscopy,
ISSN
0370-1972
Factor de impacto JCR
0
Información de impacto
Volumen
DOI
Número de revista
3
Desde la página
560
Hasta la página
567
Mes
SIN MES
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: J. RISTIC
  • Autor: V. CIMALLA
  • Autor: T. MACHLEIDT
  • Autor: Javier Grandal Quintana (UPM)
  • Autor: Miguel Angel Sanchez Garcia (UPM)
  • Autor: K.H. FRANKE
  • Autor: M. NIEBELSCHÜTZ
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
  • Autor: O. AMBACHER
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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