Ponencias en congresos:
Medida simultánea del pretilt y el espesor en pantallas VAN
Medida simultánea del pretilt y el espesor en pantallas VAN
Año:2007
Áreas de investigación
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Industria electrónica, -
Circuitos electrónicos,
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Dispositivos electrónicos
Datos
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Descripción
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| En este artículo se describe una técnica de medida en banco óptico, que permite caracterizar el ángulo de pretilt células transmisivas de alineamiento vertical, simultaneando la medida con la caracterización del espesor. Se describe además de la técnica de medida el modelo empleado para la validación de los resultados. | |
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Internacional
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No |
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Nombre congreso
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Actas V Reunión Esp. Optoeléctrónica OPTOEL2007 |
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Tipo de participación
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960 |
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Lugar del congreso
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Barakaldo (Vizcaya) |
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Revisores
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Si |
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ISBN o ISSN
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978-84-95809-30-8 |
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DOI
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Fecha inicio congreso
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11/07/2007 |
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Fecha fin congreso
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13/07/2007 |
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Desde la página
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Hasta la página
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Título de las actas
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Participantes
- Participante: David Pérez Medialdea (Universidad Politécnica de Madrid)
- Autor: Morten Andreas Geday (UPM)
- Autor: Patxi Xabier Quintana Arregui (UPM)
- Participante: Beatriz Cerrolaza Martínez (Universidad Politécnica de Madrid)
- Autor: Jose Manuel Oton Sanchez (UPM)
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