Descripción
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Relacionado con línea de investigación de sensores, transistores, detectores, microsistemas opticos y nanoestructuras | |
Internacional
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Si |
Nombre congreso
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Microscopy of Semiconducting Materials XV Cambridge (UK) 2 al 5 de abril de 2007 |
Tipo de participación
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960 |
Lugar del congreso
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Cambridge (UK) |
Revisores
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Si |
ISBN o ISSN
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DOI
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Fecha inicio congreso
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02/04/2007 |
Fecha fin congreso
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05/04/2007 |
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Título de las actas
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