Artículos en revistas:
D. PASTOR, J. IBAÑEZ, R. CUSCO, L. ARTUS, G. GONZALEZ-DIAZ, E.CALLEJA "Crystal damage assessment of Be+-implanted GaN by UV Raman scattering" Semiconductor. Sci. Technology, 22, 70 (2007)
D. PASTOR, J. IBAÑEZ, R. CUSCO, L. ARTUS, G. GONZALEZ-DIAZ, E.CALLEJA "Crystal damage assessment of Be+-implanted GaN by UV Raman scattering" Semiconductor. Sci. Technology, 22, 70 (2007)
Año:2007
Áreas de investigación
-
Industria electrónica
Datos
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Descripción
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| Relacionado con linea de actividad de nanoestructuras de nitruros y crecimient epitaxial de nitruros | |
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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SEMICOND SCI TECH |
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ISSN
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1361-6641 |
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Factor de impacto JCR
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1,899 |
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Información de impacto
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Volumen
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22 |
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DOI
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Número de revista
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0 |
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Desde la página
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70 |
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Hasta la página
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Mes
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SIN MES |
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Ranking
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Participantes
- Autor: D. PASTOR
- Autor: R. CUSCO
- Autor: J. IBAÑEZ
- Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
- Autor: G. GONZALEZ-DIAZ
- Autor: L. ARTUS
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica
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