Observatorio de I+D+i UPM

Descripción
El microscopio confocal ha sido durante mucho tiempo un instrumento de observación tridimensional con múltiples aplicaciones especialmente dentro de la biología. Sin embargo en los últimos años ha comenzado a ser utilizado como instrumento de medida en diferentes áreas de la ingeniería. En la actualidad existen muchas especificaciones de productos (dimensionales, angulares, acabado superficial) en las escalas micrométricas y nanométricas que pueden o podrían ser verificadas utilizando este instrumento. Pero para que esta verificación sea válida dentro de un sistema de calidad el microscopio confocal debe ser trazable. Esta ponencia presenta una solución sencilla a este problema implementada en el Centro Láser de la Universidad Politécnica de Madrid (UPM) que ha permitido dotar de trazabilidad a las medidas dimensionales realizadas en el plano XY y en el eje Z de su microscopio confocal.
Internacional	No
JCR del ISI	No
Título de la revista	Anales de Ingeniería Mecánica
ISSN	0212-5072
Factor de impacto JCR	0
Información de impacto
Volumen	16
DOI
Número de revista	0
Desde la página	307
Hasta la página	312
Mes	ENERO
Ranking

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

• Participante: Orlando Guarneros (Centro Láser UPM)
• Autor: Jesus de Vicente Y Oliva (UPM)
• Autor: Carlos Luis Molpeceres Alvarez (UPM)
• Autor: Juan José García-Ballesteros . (UPM)

• Creador: Grupo de Investigación: Ingeniería y Aplicaciones del Láser
• Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser
• Departamento: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial