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Application of the photoreflectance technique to the characterization of quantum dot intermediate band materials for solar cells
Application of the photoreflectance technique to the characterization of quantum dot intermediate band materials for solar cells
Año:2008
Áreas de investigación
-
Materiales magnéticos
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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THIN SOLID FILMS |
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ISSN
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0040-6090 |
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Factor de impacto JCR
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1,693 |
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Información de impacto
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Volumen
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516 |
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DOI
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Número de revista
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20 |
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Desde la página
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6943 |
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Hasta la página
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6947 |
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Mes
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AGOSTO |
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Ranking
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Ver publicación en Archivo digital upm
Participantes
- Participante: Colin Stanley
- Autor: Enrique Cánovas Díaz (UPM)
- Autor: Antonio Luque Lopez (UPM)
- Autor: Pablo Garcia-Linares Fontes (UPM)
- Participante: C.D. Fanner
- Autor: Antonio Marti Vega (UPM)
- Autor: Nair López Martínez (UPM)
- Autor: Elisa Antolin Fernandez (UPM)
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