Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Flexible Image Registration for the Identification of Best Fitted Protein Models in 3D-EM Maps
Año:2008
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
In this work we propose an image registration algorithm to automatically fit protein atomic domain models into medium-resolution three-dimensional electron microscopy reconstructions (3D-EM map). The approach employs a flexible registration algorithm whose optimizer controls the generation of stereo-chemically correct models from a given reference domain belonging to a super-family of proteins. The proposed algorithm generates models automatically in the correct direction until the optimizer converges to the best fitted model. A local gradient optimizer is employed for this task. Mutual Information is used as an alternative to Cross Correlation Coefficient. An additional rigid registration that uses a local gradient optimization is applied between each generated model and the 3D-EM map.
Internacional
Si
Nombre congreso
5th IEEE International Symposium on Biomedical Imaging: From Nano to Macro (ISBI 2008)
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Paris
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-1-4244-2003-2
DOI
Fecha inicio congreso
14/05/2008
Fecha fin congreso
17/05/2008
Desde la página
983
Hasta la página
986
Título de las actas
Proceedings of 5th IEEE International Symposium on Biomedical Imaging: From Nano to Macro.
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Participante: Carlos O.S. Sorzano (CSIC, Madrid)
  • Participante: Jose Mª Carazo (CSIC, Madrid)
  • Autor: Andres de Santos Lleo (UPM)
  • Participante: Laura Fernandez de Manuel (UPM)
  • Autor: Maria Jesus Ledesma Carbayo (UPM)
  • Participante: J. Atineza Herrero (CSIC, Madrid)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Tecnología de imágenes biomédicas
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro de tecnología Biomédica CTB
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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