Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
J. Grandal, A.Bengoechea, M.A. Sánchez-García, E. Calleja, E. Luna, A. Trampert, M. Niebelschütz, V. Cimalla "Structural Characterization Of Inn-Based Layers Grown On Si (111) And Si (001) Substrates By Mbe" 14th European Molecular Beam Epitaxy Workshop 2007 Sierra Nevada, Granada (ESPAÑA) 5 al 7 de marzo de 2007
Año:2007
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
Relacionado con la línea de investigación de Crecimiento epitaxial de nitruros del Grupo III para aplicaciones en biosensores y detectores de IR
Internacional
Si
Nombre congreso
14th European Molecular Beam Epitaxy Workshop 2007 Sierra Nevada, Granada (ESPAÑA) 5 al 7 de marzo de 2007
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Sierra Nevada, Granada (ESPAÑA)
Revisores
Si
ISBN o ISSN
DOI
Fecha inicio congreso
05/03/2007
Fecha fin congreso
07/03/2007
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Título de las actas
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: A TRAMPERT
  • Autor: M. NIEBELSCHUTZ
  • Autor: Ana Mª Bengoechea Encabo (UPM)
  • Autor: Javier Grandal Quintana (UPM)
  • Autor: V. CIMALLA
  • Autor: Miguel Angel Sanchez Garcia (UPM)
  • Autor: E. LUNA
  • Autor: Enrique Calleja Pardo (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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