Artículos en revistas:
Aluminium incorporation in AlGaN/GaN heterostructures: a comparative study by ion beam analysis and X-ray diffraction
Año:2008
Áreas de investigación
- Industria electrónica
Datos
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Descripción
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Internacional
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Si |
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JCR del ISI
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Si |
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Título de la revista
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THIN SOLID FILMS |
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ISSN
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0040-6090 |
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Factor de impacto JCR
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1,693 |
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Información de impacto
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Volumen
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516 |
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DOI
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Número de revista
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0 |
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Desde la página
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8147 |
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Hasta la página
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8452 |
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Mes
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ENERO |
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Ranking
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Ver publicación en Archivo digital upm
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
- Autor: A.F BRAÑA
- Autor: R. GAGO
- Autor: Andres Redondo Cubero UPM
- Autor: Fernando González-Posada Flores UPM
- Autor: U. KREISSIG
- Autor: Elias Muñoz Merino UPM
- Autor: M-A DI FORTE POISSON
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
- Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
- Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
- Departamento: Ingeniería Electrónica