Memorias de investigación
Research Publications in journals:
Fabrication and stress relief modelling of GaN based MEMS test structures grown by MBE on Si(111)
Year:2008

Research Areas
  • Electronics engineering

Information
Abstract
RELACIONADO CON LINEA DE INVESTIGACION
International
Si
JCR
Si
Title
PHYSICA STATUS SOLIDI B-BASIC SOLID STATE PHYSICS
ISBN
0370-1972
Impact factor JCR
1,071
Impact info
Volume
5
Journal number
0
From page
1974
To page
1976
Month
ENERO
Ranking
Participants

Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica