Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Evaluation of device reliability based on accelerated tests
Año:2008
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
Reliability evaluation based on degradation is very useful in systems with scarce failures. In this paper a new degradation model based on Weibull distribution is proposed. The model is applied to the degradation of Light Emitting Diodes (LEDs) under different accelerated tests. The results of these tests are in agreement with the proposed model and reliability function is evaluated.
Internacional
Si
Nombre congreso
Safety, Reliability and Risk Analysis, ESREL, 2008 and SRA-Europe
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Valencia (España)
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-0-415-48513-5
DOI
Fecha inicio congreso
22/09/2008
Fecha fin congreso
25/09/2008
Desde la página
899
Hasta la página
904
Título de las actas
2009 Taylor & Francis Group, London
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: David Rodríguez (Universidad Politécnica de Madrid)
  • Autor: Manuel Vazquez Lopez (UPM)
  • Autor: Eduardo Nogueira Diaz (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Semiconductores III-V
  • Departamento: Electrónica Física
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto de Energía Solar
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