Descripción
|
|
---|---|
RELACIONADO CON LINEAS DE INVESTIGACIÓN DEL GRUPO | |
Internacional
|
Si |
Nombre congreso
|
International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN) 2008 Montreux (Suiza), 2008 |
Tipo de participación
|
960 |
Lugar del congreso
|
Montreux (Suiza), 2008 |
Revisores
|
Si |
ISBN o ISSN
|
0000-0000 |
DOI
|
|
Fecha inicio congreso
|
06/10/2008 |
Fecha fin congreso
|
10/10/2009 |
Desde la página
|
0 |
Hasta la página
|
0 |
Título de las actas
|
The Role of Strain in the Off-state Degradation Mechanism of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors |