Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
The Role of Strain in the Off-state Degradation Mechanism of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN) 2008 Montreux (Suiza), 2008
Año:2008
Áreas de investigación
  • Industria electrónica
Datos
Descripción
RELACIONADO CON LINEAS DE INVESTIGACIÓN DEL GRUPO
Internacional
Si
Nombre congreso
International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN) 2008 Montreux (Suiza), 2008
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
Montreux (Suiza), 2008
Revisores
Si
ISBN o ISSN
0000-0000
DOI
Fecha inicio congreso
06/10/2008
Fecha fin congreso
10/10/2009
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Título de las actas
The Role of Strain in the Off-state Degradation Mechanism of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: C. SÁNCHEZ
  • Autor: Elias Muñoz Merino (UPM)
  • Autor: Carlos Rivera De Lucas (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Dispositivos Semiconductores del ISOM
  • Centro o Instituto I+D+i: Instituto Universitario de Sistemas Optoelectrónicos y Microtecnología
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
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