|
Descripción
|
|
|---|---|
| En este artículo se describe la implementación de un sistema de caracterización de pantallas en el microscopio polarizado, totalmente automatizado, basado en labview. | |
|
Internacional
|
Si |
|
Nombre congreso
|
6th IEEE Spanish Conf. On Electron. Dev. |
|
Tipo de participación
|
960 |
|
Lugar del congreso
|
San Lorenzo del Escorial (Madrid) |
|
Revisores
|
Si |
|
ISBN o ISSN
|
1-4244-0868-7 |
|
DOI
|
|
|
Fecha inicio congreso
|
31/01/2007 |
|
Fecha fin congreso
|
02/02/2007 |
|
Desde la página
|
|
|
Hasta la página
|
|
|
Título de las actas
|
|