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Abstract
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| En este artículo se describe la implementación de un sistema de caracterización de pantallas en el microscopio polarizado, totalmente automatizado, basado en labview. | |
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International
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Si |
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Congress
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6th IEEE Spanish Conf. On Electron. Dev. |
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960 |
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Place
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San Lorenzo del Escorial (Madrid) |
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Reviewers
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Si |
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ISBN/ISSN
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1-4244-0868-7 |
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Start Date
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31/01/2007 |
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End Date
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02/02/2007 |
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