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Abstract
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| En este artículo se describen las medidas de impedancia dieléctrica realizadas en OLEDs y como a partir de ellas, empleando el modelo eléctrico desarrollado, se puede caracterizar la movilidad de los portadores (huecos). | |
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International
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Si |
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Congress
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SID'07 Intl. Symp. Digest XXXVIII |
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960 |
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Place
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Long Beach (California-USA) |
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Reviewers
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Si |
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ISBN/ISSN
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0007-966X |
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Start Date
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20/05/2007 |
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End Date
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25/05/2007 |
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