Descripción
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En este artículo se describen las medidas de impedancia dieléctrica realizadas en OLEDs y como a partir de ellas, empleando el modelo eléctrico desarrollado, se puede caracterizar la movilidad de los portadores (huecos). | |
Internacional
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Si |
Nombre congreso
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SID'07 Intl. Symp. Digest XXXVIII |
Tipo de participación
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960 |
Lugar del congreso
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Long Beach (California-USA) |
Revisores
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Si |
ISBN o ISSN
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0007-966X |
DOI
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Fecha inicio congreso
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20/05/2007 |
Fecha fin congreso
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25/05/2007 |
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Título de las actas
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