Observatorio de I+D+i UPM

Descripción
El microscopio confocal ha sido durante mucho tiempo un instrumento de observación tridimensional con múltiples aplicaciones especialmente dentro de la biología. Sin embargo en los últimos años ha comenzado a ser utilizado como instrumento de medida en diferentes áreas de la ingeniería. En la actualidad existen muchas especificaciones de productos (dimensionales, angulares, acabado superficial) en las escalas micrométricas y nanométricas que pueden o podrían ser verificadas utilizando este instrumento. Pero para que esta verificación sea válida dentro de un sistema de calidad el microscopio confocal debe ser trazable. Esta ponencia presenta una solución sencilla a este problema implementada en el Centro Láser de la Universidad Politécnica de Madrid (UPM) que ha permitido dotar de trazabilidad a las medidas dimensionales realizadas en el plano XY y en el eje Z de su microscopio confocal.
Internacional	No
Nombre congreso	XVII Congreso Nacional de Ingeniería Mecánica
Tipo de participación	960
Lugar del congreso	GIJÓN
Revisores	No
ISBN o ISSN	0212-5072
DOI
Fecha inicio congreso	14/02/2008
Fecha fin congreso	15/02/2008
Desde la página	307
Hasta la página	312
Título de las actas	Actas del XVII Congreso Nacional de Ingeniería Mecánica

Esta actividad pertenece a memorias de investigación

• AUTOR: ORLANDO GUARNEROS (CENTRO LÁSER UPM)
• Autor: Jesus de Vicente Y Oliva (UPM)
• Autor: Carlos Luis Molpeceres Alvarez (UPM)
• Autor: Juan José García-Ballesteros . (UPM)

• Creador: Grupo de Investigación: Ingeniería y Aplicaciones del Láser
• Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser
• Departamento: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial