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Abstract
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| El microscopio confocal ha sido durante mucho tiempo un instrumento de observación tridimensional con múltiples aplicaciones especialmente dentro de la biología. Sin embargo en los últimos años ha comenzado a ser utilizado como instrumento de medida en diferentes áreas de la ingeniería. En la actualidad existen muchas especificaciones de productos (dimensionales, angulares, acabado superficial) en las escalas micrométricas y nanométricas que pueden o podrían ser verificadas utilizando este instrumento. Pero para que esta verificación sea válida dentro de un sistema de calidad el microscopio confocal debe ser trazable. Esta ponencia presenta una solución sencilla a este problema implementada en el Centro Láser de la Universidad Politécnica de Madrid (UPM) que ha permitido dotar de trazabilidad a las medidas dimensionales realizadas en el plano XY y en el eje Z de su microscopio confocal. | |
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International
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No |
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Congress
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XVII Congreso Nacional de Ingeniería Mecánica |
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960 |
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Place
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GIJÓN |
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Reviewers
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No |
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ISBN/ISSN
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0212-5072 |
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Start Date
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14/02/2008 |
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End Date
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15/02/2008 |
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From page
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307 |
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To page
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312 |
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Actas del XVII Congreso Nacional de Ingeniería Mecánica |