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Descripción
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| La presente invención está relacionada con la medida del tiempo con alta resolución y en particular con un sistema de medición del tiempo que asocia una etiqueta temporal a un evento asíncrono por medio de una línea de retardo tipo vernier, la cual se realiza sobre un dispositivo lógico programable (FPGA) de bajo coste. La invención tiene aplicación en generación de etiquetas temporales asociadas a un suceso no periódico. Una aplicación específica es obtención de la etiqueta temporal imprescindible para la realización de la ventana de coincidencias en tomografía por emisión de positrones. | |
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Internacional
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No |
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Estado
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Concedida |
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Referencia Patente Prioritaria
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P200401381 |
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En explotación
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No |
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Fecha solicitud
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08/06/2004 |
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Titulares aparte de la UPM
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