Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Patentes:
Aparato para la medida de temperatura y corriente de fugas en un chip
Año:2009
Áreas de investigación
  • Procesado y análisis de la señal
Datos
Descripción
Aparato para la medida de temperatura y corriente de fugas en un chip que proporciona una salida que varía linealmente con la temperatura. El aparato comprende un inversor de fugas y un módulo electrónico que digitaliza y linealiza la salida no lineal del inversor de fugas. Al proporcional una respuesta lineal se reducen las necesidades de almacenamiento e interconexión de los datos, además se facilita la representación numérica de los mismos. El aparato se puede usar para medir variaciones de temperatura dentro de un chip y también para medir variaciones de la corriente de fugas, lo que a su vez conlleva medir variaciones de potencia estática dentro de un chip.
Internacional
Si
Estado
Concedida
Referencia Patente Prioritaria
P200702109
En explotación
No
Fecha solicitud
27/07/2007
Titulares aparte de la UPM
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: M. Luisa Lopez Vallejo (UPM)
  • Autor: Jose Luis Ayala Rodrigo (UPM)
  • Autor: Pablo Ituero Herrero (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)
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