Memorias de investigación
Patents:
Aparato para la medida de temperatura y corriente de fugas en un chip
Year:2009

Research Areas
  • Processing and signal analysis

Information
Abstract
Aparato para la medida de temperatura y corriente de fugas en un chip que proporciona una salida que varía linealmente con la temperatura. El aparato comprende un inversor de fugas y un módulo electrónico que digitaliza y linealiza la salida no lineal del inversor de fugas. Al proporcional una respuesta lineal se reducen las necesidades de almacenamiento e interconexión de los datos, además se facilita la representación numérica de los mismos. El aparato se puede usar para medir variaciones de temperatura dentro de un chip y también para medir variaciones de la corriente de fugas, lo que a su vez conlleva medir variaciones de potencia estática dentro de un chip.
International
Si
Status
Concedida
application number
P200702109
under exploitation
No
Date
27/07/2007
30/06/2008
Owner
Participants

Research Group, Departaments and Institutes related
  • Creador: No seleccionado
  • Departamento: Ingeniería Electrónica
  • Grupo de Investigación: Laboratorio de Sistemas Integrados (LSI)