Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Ponencias en congresos:
Matching Points in Poor Edge Information Images
Año:2009
Áreas de investigación
  • Procesado y análisis de la señal
Datos
Descripción
Pattern matching and image patches correspondence have been described in several papers. However, in most cases the results are obtained using images with high level of detail, in other words, images with useful edge information. This paper describes a method to find correspondences between images with very poor edge information -for instance a painting with a cloudless sky- and its application to reflectographic images mosaicing. Unlike other pattern matching techniques, the proposed method solves the issue of low levels of detail or lack of good information, both needed for the determination of the correspondences used by common likeness measure (cross-norm correlation), features correspondence (Harris, SUSAN) and object recognition methods. Thus, intensity-augmented ordinal measure method is used: a window-based noise-robust method to calculate matching points. This method is improved with our Point Structure Selection (PSS) procedure to select good correspondences and reject false positives.
Internacional
Si
Nombre congreso
ICIP 2009 IEEE International Conference on Image Processing
Tipo de participación
960
Lugar del congreso
El Cairo
Revisores
Si
ISBN o ISSN
978-1-4244-5653-6
DOI
10.1109/ICIP.2009.5414221
Fecha inicio congreso
07/10/2009
Fecha fin congreso
10/10/2009
Desde la página
197
Hasta la página
200
Título de las actas
Matching Points in Poor Edge Information Images
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Alberto Posse Fernández (UPM)
  • Autor: Juan Torres Arjona (UPM)
  • Autor: Jose Manuel Menendez Garcia (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Grupo de Aplicación de Telecomunicaciones Visuales (G@TV)
  • Departamento: Señales, Sistemas y Radiocomunicaciones
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