Observatorio de I+D+i UPM

Memorias de investigación
Artículos en revistas:
Optical characterization of the heat-affected zone in laser patterning of thin a-Si:H
Año:2009
Áreas de investigación
  • Materiales magnéticos
Datos
Descripción
In this paper we present an original approach to estimate the heat affected zone in laser scribing processes for photovoltaic applications. We used high resolution IR-VIS Fourier transform spectrometry at micro-scale level for measuring the refractive index variations at different distances from the scribed line, and discussing then the results obtained for a-Si:H layers irradiated in different conditions that reproduce standard interconnection parameters. In order to properly assess the induced damage by the laser process, these results are compared with measurements of the crystalline state of the material using micro-Raman techniques. Additionally, the authors give details about how this technique could be used to feedback the laser process parametrization in monolithic interconnection of thin film photovoltaic devices based on a-Si:H.
Internacional
Si
JCR del ISI
No
Título de la revista
Proceedings of SPIE. The International Society for Optical Engineering
ISSN
0277-786X
Factor de impacto JCR
0
Información de impacto
Volumen
7202
DOI
doi:10.1117/12.809514
Número de revista
0
Desde la página
72020R
Hasta la página
72020R10
Mes
FEBRERO
Ranking
Esta actividad pertenece a memorias de investigación
Participantes
  • Autor: Carlos Luis Molpeceres Alvarez (UPM)
  • Autor: Mónica Colina Brito (UPM)
  • Autor: Miguel Holgado Bolaños (UPM)
  • Autor: Miguel Morales Furio (UPM)
  • Autor: Maria Isabel Sanchez Aniorte (UPM)
  • Autor: Sara Lauzurica Santiago (UPM)
  • Autor: Juan José García-Ballesteros . (UPM)
  • Autor: Jose Luis Ocaña Moreno (UPM)
Grupos de investigación, Departamentos, Centros e Institutos de I+D+i relacionados
  • Creador: Grupo de Investigación: Ingeniería y Aplicaciones del Láser
  • Centro o Instituto I+D+i: Centro Laser
  • Departamento: Física Aplicada a la Ingeniería Industrial
  • Departamento: Automática, Ingeniería Electrónica e Informática Industrial
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