|
Descripción
|
|
|---|---|
| Relacionado con Línea de Investigación del Grupo GDS-ISOM, consultar en http://www.isom.upm.es/invdes.php | |
|
Internacional
|
Si |
|
Nombre congreso
|
19th International Conference on Ion Beam Analyis Cambridge (UK), 2009 |
|
Tipo de participación
|
960 |
|
Lugar del congreso
|
Cambridge (UK), 2009 |
|
Revisores
|
Si |
|
ISBN o ISSN
|
0000000000000 |
|
DOI
|
|
|
Fecha inicio congreso
|
07/09/2009 |
|
Fecha fin congreso
|
11/09/2009 |
|
Desde la página
|
0 |
|
Hasta la página
|
0 |
|
Título de las actas
|
"Accurate measurement of strain in semiconductors heterostructures by high-energy ion channelling: the influence of steering effects" |